Dauerhaft - Tester:
mechanische Konstruktionen mit Antrieben und Produktgriffen.
Kommputer akquiriert die Messdaten, steuert mit dem Tester und archiviert die Messangaben.
Alle bisher hergestellte Tester sind mit
Hardware von der Fa. National Instruments ausgerüstet und sind  durch ein Programm gebildet in w LabView (National Instruments) gesteuert.

1. Tester zur Drehschalter:
      - einmalig prüft 6 Schalter
     
- Drehbereich: unbegrenzt, programmierbar
      - Drehgeschwindigkeit: 2 Umdr./s 
        (andere auch mö
glich)
      - Spannungsmessbereich: ab +/-100mV bis +/- 10V
      - Arbeitstemperatur: ab -40
°C bis +85°C
      - Arbeitszeit: unbegr
enzt
      - Software-Plattform:  zu vereinbaren (z.B. real time)

 
2. Tester XYZ zur Hebelschalter:
      - einmalig prüft 6 Schalter
      - Bewegungsbereich: 200mm für jede Achse
      - Lineargeschwindigkeit: bis 25 mm/s
        (andere mö
glich)
      - Spannungsmessbereich: ab +/-100mV bis +/- 10V
      - Arbeitstemperatur: ab -40
°C bis +85°C
      - Arbeitszeit: unbegr
enzt
      - Software-Plattform:  zu vereinbaren
(z.B. real time)

 
3. Tester XY zur Hebelschalter:
      - einmalig prüft 6 Schalter
      - Bewegungsbereich: 200mm für jede Achse
      - Lineargeschwindigkeit: bis 25 mm/s 
        (andere mö
glich)
      - Spannungsmessbereich: ab +/-100mV bis +/- 10V
      - Arbeitstemperatur: ab -40
°C bis +85°C
      - Arbeitszeit: unbegr
enzt
      - Software-Plattform:  zu vereinbaren
(z.B. real time)

 
4. Tester zur Richtungsschalter (Blinker):
      - einmalig prüft 6 Schalter
      - Bewegungsbereich: 200mm (Achse Z)
      -
Drehbereich: unbegrenzt, programmierbar
      -
Lineargeschwindigkeit: bis 25 mm/s 
        (andere mö
glich)

      - Drehgeschwindigkeit: 2 Umdr./s
(andere möglich)
      -
Spannungsmessbereich: b a+/-100mV bis +/- 10V
      - Arbeitstemperatur: ab -40
°C bis +85°C
      - Arbeitszeit: unbegr
enzt
      - Software-Plattform:  zu vereinbaren
  (z.B. real time)

 
5. Ausrüstung, Programm:
      - gerades Benutzer-Interface
     
- gerade Programmierung des Testes

 
     - gerade Kontrolle vom Verlauf des Testes

 
      - Archivierung: Daten auf Festplatte +
        Berichtsausdruck
      - Bedienung von der Alarmzustä
nde

 
      - Messung von der Spannung, Speisung,
        Belastung

 
      - Belastungsplatte (hier: induktive Belastung)